L | M | X | J | V | S | D |
---|---|---|---|---|---|---|
1 | ||||||
2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 |
9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 |
16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 |
23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 |
30 |
Publicación | |
---|---|
Título: | BEAM TEST OF A LARGE AREA N-ON-N SILICON STRIP DETECTOR WITH FAST BINARY READOUT ELECTRONICS |
Título de la revista: | I E E E TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE: (INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC.) |
Tipo de aportación: | ARTICULO |
Número de volumen: | 44 |
Páginas de la publicación: | 736 - 742 |
Año de la publicación: | 1997 |
ISSN: | 0018-9499 |
Autores: |
JOSE JULIO LOZANO BAHILO Y. UNNO ET AL. |